Dictionnaire français - anglais

relais coaxial type "

latching

"

électronique et électrotechnique - iate.europa.eu

Publications scientifiques

A strategy for soft-error vulnerability estimation using the single-event transient susceptibilities of each gate
...The Soft-Error Vulnerability (SEV) is an estimated parameter that, in conjunction with the characteristics of the radiation environment, is used to obtain the Soft-Error Rate (SER), that is a metric used to predict how digital systems will behave in this environment. Currently, the most confident method for SER estimation is the radiation test, since it has the actual interaction of the radiation with the electronic device. However, this test is expensive and requires the real device, that becomes available late on the design cycle. These restrictions motivated the development of other SER and SEV estimation methods, including analytical, electrical and logic simulations, and emulation-based approaches....
général - core.ac.uk -
Etude et réalisation d'un circuit intégré spécifique de mise en forme de signaux délivrés par un détecteur pour une expérience de physique des particules
...Part of the Large Hadron Collider (LHC) at CERN, the ALICE detector will be dedicated to the study of the Quark Gluon Plasma, a state of deconfined matter, from 2006. The trigger system of the ALICE Dimuon Spectrometer is divided into 72 Resistive Plate Chambers (RPC) running in streamer mode, with 21 000 signal channels. A first prototype of a specific integrated circuit, which shapes the detector output signals, has been studied and designed. Its role is to produce logical data with a good time precision, when the input signal corresponds to the expected pulse shape....
Europe / politique tarifaire / recherche et propriété intellectuelle - core.ac.uk - PDF: core.ac.uk
Stratégie d'estimation de la vulnérabilité aux erreurs 'soft' basée sur la susceptibilité aux événements transitoires de chaque porte logique
...The Soft-Error Vulnerability (SEV) is an estimated parameter that, in conjunction with the characteristics of the radiation environment, is used to obtain the Soft-Error Rate (SER), that is a metric used to predict how digital systems will behave in this environment. Currently, the most confident method for SER estimation is the radiation test, since it has the actual interaction of the radiation with the electronic device. However, this test is expensive and requires the real device, that becomes available late on the design cycle. These restrictions motivated the development of other SER and SEV estimation methods, including analytical, electrical and logic simulations, and emulation-based approaches....
général - core.ac.uk -

Traductions en contexte français - anglais

Traduction du feuillet, « Latching and feeding management

See information sheet “Latching and Feeding Management”.

général - CCMatrix (Wikipedia + CommonCrawl)
Cependant un gain trop important entrainera un risque élevé de latching.

However a too important gain will involve a high risk of latching

général - CCMatrix (Wikipedia + CommonCrawl)
Cependant un gain trop important entrainera un risque élevé de latching

However a too important gain will involve a high risk of latching

général - CCMatrix (Wikipedia + CommonCrawl)
Cependant un gain trop important entrainera un risque élevé de latching[6].

However a too important gain will involve a high risk of latching

général - CCMatrix (Wikipedia + CommonCrawl)
Cependant un gain trop important entrainera un risque élevé de latching.[6]

However a too important gain will involve a high risk of latching

général - CCMatrix (Wikipedia + CommonCrawl)
La tâche principale était de déplacer deux LEE (Latching End Effector) du bras robotique Canadarm2.

The two men had to replace a Latching End Effector (LEE) on the ISS's robotic arm the Canadarm2.

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Au cours de la première sortie spatiale, Bresnik et Vande Hei remplaceront l’un des deux Latching End Effectors (LEE).

During the first spacewalk, Bresnik and Vande Hei will replace one of two Latching End Effectors (LEE) on the station’s robotic arm, Canadarm2.

général - CCMatrix (Wikipedia + CommonCrawl)
Le schéma équivalent du transistor IGBT ci-contre montre un troisième transistor, qui représente une propriété parasite responsable du latching.

The equivalent diagram of transistor IGBT opposite watch a third transistor, which represents in fact a property parasitises responsible for the latching.

général - CCMatrix (Wikipedia + CommonCrawl)
Le schéma équivalent du transistor IGBT ci-contre montre un troisième transistor, qui représente en fait une propriété parasite responsable du latching.

The equivalent diagram of transistor IGBT opposite watch a third transistor, which represents in fact a property parasitises responsible for the latching.

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La première génération de transistors IGBT présentait d’importants problèmes de verrouillage (ou latching), qui ont été corrigés dans la 2e génération apparue au début des années 1990.

The first generation of transistors IGBT presented big problems of locking, which were corrected in the second generation appeared with the beginning of the year 1990.

général - CCMatrix (Wikipedia + CommonCrawl)
La première génération de transistors IGBT présentait d'importants problèmes de verrouillage (ou latching) , qui ont été corrigés dans la 2e génération apparue au début des années 1990.

The first generation of transistors IGBT presented big problems of locking, which were corrected in the second generation appeared with the beginning of the year 1990.

général - CCMatrix (Wikipedia + CommonCrawl)
La première génération de transistors IGBT présentait d’importants problèmes de verrouillage (ou latching), qui ont été corrigés dans la deuxième génération apparue au début des années 1990.

The first generation of transistors IGBT presented big problems of locking, which were corrected in the second generation appeared with the beginning of the year 1990.

général - CCMatrix (Wikipedia + CommonCrawl)
La première génération de transistors IGBT présentait d'importants problèmes de verrouillage (ou latching), qui ont été corrigés dans la deuxième génération apparue au début des années 1990.

The first generation of transistors IGBT presented big problems of locking, which were corrected in the second generation appeared with the beginning of the year 1990.

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Néanmoins une technologie dite de grille en tranchée est également utilisée: la zone d'épitaxie est découpée sous la grille de manière à diminuer les phénomènes de latching et permettre ainsi des densités de courant plus importantes.

Nevertheless a technology known as of grid in trench is also used: the zone of epitaxy is cut out under the grid so as to decrease the phenomena of latching and to thus allow more important densities of current.

général - CCMatrix (Wikipedia + CommonCrawl)
Néanmoins une technologie dite de grille en tranchée est également utilisée: la zone d’épitaxie est découpée sous la grille de manière à diminuer les phénomènes de latching et permettre ainsi des densités de courant plus importantes.

Nevertheless a technology known as of grid in trench is also used: the zone of epitaxy is cut out under the grid so as to decrease the phenomena of latching and to thus allow more important densities of current.

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