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Publications scientifiques

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Wafer inspection technology challenges for ulsi manufacturingThe use of

wafer inspection

systems in managing semiconductor manufacturing yields is described....

général - core.ac.uk - PDF: citeseerx.ist.psu.edu

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Survey on feature extraction of images for appropriate caption generation 1... Despite the capabilities of these techniques, some applications require simultaneous analysis of multiple, complex, and irregular features within an image as in semiconductor wafer inspection....

général - core.ac.uk - PDF: www.pnrsolution.org

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Direct to digital holography for high aspect ratio inspection of semiconductor wafers... Direct to Digital Holography (DDH) has been developed as a semiconductor wafer inspection tool and in particular as a tool for seeing defects in high aspect ratio (HAR) structures on semiconductor wafers and also for seeing partial-height defects....

général - core.ac.uk - PDF: web.ornl.gov

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Direct to digital holographyIn this CRADA, Oak Ridge National Laboratory (ORNL) assisted nLine Corporation of Austin, TX in the development of prototype semiconductor wafer inspection tools based on the direct-to-digital holographic (DDH) techniques invented at ORNL....

général - core.ac.uk - PDF: digital.library.unt.edu

Synonymes et termes associés anglais

wafer

•

methadone

•

dolly

•

biscuit

•

coined bar

•

coke

Exemples anglais - français

inspection

contrôle

général / métallurgie et sidérurgie / technologie et réglementation technique - iate.europa.eu

inspection

gestion comptable / droit / agriculture, sylviculture et pêche / technologie et réglementation technique / industries nucléaire et électrique / énergie / politique internationale / droit de l'union européenne / institutions financières et crédit / santé / environnement / informatique et traitement des données / transport terrestre / bâtiment et travaux publics / transports - iate.europa.eu

visitage

industries du cuir et du textile - acta.es

[...]

fonction d'inspection

vérification

révision

contrôle (vérification)

visite

vérifications

descente sur les lieux

examen

surveillance

contrôle de réception

choix

estimation

wafer

galette

informatique et traitement des données - acta.es

gaufrette

industrie agro-alimentaire - iate.europa.eu

plaquette

fiscalité / finances - iate.europa.eu

[...]

Traductions en contexte anglais - français

wafer inspection

method and a wafer inspection apparatus.

Procédé et appareil d'inspection de plaquettes.

industrie mécanique - wipo.int

A wafer inspection method and a wafer inspection apparatus are provided.

L'invention concerne un procédé d'inspection de tranche et un appareil d'inspection de tranche.

électronique et électrotechnique - wipo.int

The method also includes performing inspection of a wafer according to an updated wafer inspection recipe.

Le procédé consiste aussi à réaliser une inspection d'une plaquette en fonction d'une formule d'inspection de plaquette actualisée.

électronique et électrotechnique - wipo.int

A wafer inspection device is provided for a macro inspection of the entire surface of a wafer.

L'invention concerne un dispositif d'inspection de plaquettes exécutant une macro-inspection de la totalité de la surface d'une plaquette.

production - wipo.int

A wafer inspection system and a method for inspecting a wafer.

L'invention porte sur un système de contrôle de tranches et sur un procédé de contrôle d'une tranche.

informatique et traitement des données - wipo.int

The method also includes scanning the wafer with a wafer inspection system to thereby generate output for the wafer with one or more detectors of the wafer inspection system.

Le procédé comprend également le balayage de la galette avec un système d'inspection de galette afin de générer ainsi une sortie pour la galette avec un ou plusieurs détecteurs du système d'inspection de galette.

électronique et électrotechnique - wipo.int

A wafer inspection system is described.

L'invention se rapporte à un système de contrôle de plaquettes.

industrie mécanique - wipo.int

A method and apparatus for wafer inspection.

L'invention concerne un procédé et un appareil d'inspection de plaquettes.

industrie mécanique - wipo.int

Performing the inspection includes binning defects detected on the wafer according to the DBB process in the updated wafer inspection recipe.

La réalisation de l'inspection consiste à compartimenter les défauts détectés sur la plaquette en fonction du processus de DBB dans la formule d'inspection de plaquette actualisée.

électronique et électrotechnique - wipo.int

One structure includes a feature formed in a chuck configured to support a wafer during inspection by the wafer inspection system.

Une structure comprend un élément formé dans un mandrin configuré pour supporter une plaquette pendant l'inspection par le système d'inspection de plaquette.

industrie mécanique - wipo.int

The present invention relates to a wafer inspection apparatus, and more particularly, to a wafer inspection apparatus capable of accurately inspecting a sawing mark formed on the surface of a wafer.

La présente invention concerne un appareil d'inspection de tranches, et plus particulièrement, un appareil d'inspection de tranches capable d'inspecter précisément une marque de sciage formée sur la surface d'une tranche.

électronique et électrotechnique - wipo.int

Provided is a wafer inspection apparatus capable of reducing a time consumed for inspecting a wafer.

La présente invention concerne un appareil d'inspection de tranches capable de réduire le temps nécessaire à l'inspection d'une tranche.

électronique et électrotechnique - wipo.int

A method and apparatus for wafer inspection is disclosed.

L'invention porte sur un procédé et un appareil d'inspection de tranche.

électronique et électrotechnique - wipo.int

The invention relates to a wafer inspection device (1).

L'invention concerne un dispositif (1) utilisé pour contrôler des tranches de semi-conducteur.

électronique et électrotechnique - wipo.int

A wafer inspection image is provided and coordinates of potential defects in the wafer are determined.

La présente invention a trait à des systèmes et des procédés de conversion des coordonnées de défauts de plaquette détectées en coordonnées de réticule au moyen de données de conception assistée par ordinateur.

industrie mécanique - wipo.int

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Requêtes fréquentes anglais :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,

Requêtes fréquentes français :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,

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