La présente invention porte sur un programme d'essai qui commande un matériel de testeur (100).
La présente invention porte sur un programme d'essai qui commande un matériel de testeur (100).
Dans encore une autre mise en œuvre, l'exécution d'un programme de test est isolée d'un système d'exploitation de la plateforme du testeur, ce qui permet au programme de test de fonctionner indépendamment de la plateforme du testeur.
Le programme d'essai de production est conservé au niveau d'un essai à extraire, les informations de registres et le réglages sont extraits du testeur pour l'essai à extraire.
Contactez-nous si vous souhaitez faire parti de nos beta-testeurs.
Le microcode contient un programme de test pour tester un circuit.
Un contrôleur exécute le programme de test.
Le processeur de la station de test comprend un programme de test qui n'indique pas les informations sensibles, ainsi qu'un programme d'exécution qui interprète le programme de test afin de générer des instructions codées permettant d'effectuer le test.
Ce programme de test comprend une pluralité de blocs de test comportant chacun au moins un test.
La présente invention concerne un programme de test qui commande un matériel d'appareil de contrôle (100).
Ledit programme d'essai de production comprend plusieurs fichiers de programmes et séquences de codes d'essai.
La reprogrammabilité permet également à des ingénieurs d'essai de reprogrammer la carte lorsqu'ils mettent au point un programme d'essai.
Si le niveau de la version de programme d'essai correspond au niveau de version de programme BTS, alors le premier programme d'OMT est utilisé pour procéder à l'essai voulu.
Il s’agit ici d’un générateur, ou d’un dispositif similaire, qui permet de générer un programme-test, ou un modèle de programme-test, destiné à être exécuté dans un appareil de test pour semi-conducteurs via l’emploi de données intermédiaires.
L'invention concerne un procédé permettant d'élaborer un programme d'essai pour système d'essai à semi-conducteur.
L'invention concerne le développement de programmes d'essai destines à un système d'essai à semiconducteur, notamment un équipement automatique d'essai (ATE), utilisant des constructions orientées objets.
Dans cette dernière, le niveau de la version de programme d'essai est comparé à un niveau de version de programme de la BTS.
L'invention concerne un dispositif de déboguage de programme de test comprenant un simulateur de dispositif à l'essai (DUT), et un simulateur de dispositif de test à semi-conducteur.
A partir de cet ensemble d'actions, il y a production d'un programme de test.
Un dispositif de circuit intégré particulier (140) est testé à l'aide d'un programme de test et du paramètre de test de groupe.
Nous avons mis en place un AMBASSADOR TEST PROGRAM (se référer à la rubrique Ambassador Test Program).
Le microprocesseur contient un programme de contrôle qui provoque la création de vecteurs de test et qui permet le contrôle de la réponse au test émise sur la base des vecteurs de test.
Honnêtement, s’il ne se passe rien dans un programme de tests, je dirais que le programme de tests n’est pas assez rigoureux», a affirmé Elon Musk.
Honnêtement, s'il ne se passe rien dans un programme de tests, je dirais que le programme de tests n'est pas assez rigoureux», a affirmé Elon Musk.
Honnêtement, s’il ne se passe rien dans un programme de tests, je dirais que le programme de tests n’est pas assez rigoureux », a affirmé Elon Musk.
Requêtes fréquentes anglais :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
Requêtes fréquentes français :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
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