La présente invention concerne un élément à capacité variable ayant une petite capacité parasite et un grand rapport de variation de capacité.
Des électrodes de protection servent à réduire la capacité parasite de la mesure.
L'invention concerne un procédé et un appareillage de microscopie capacitive à balayage (SCM) comprenant la caractérisation de variations spatiales dans une capacité parasite (Cstray).
Ainsi, la charge que la capacité parasite (16) du moteur électrique principal a accumulée est évacuée, ce qui empêche le choc électrique par la charge accumulée par la capacité parasite du moteur électrique principal.
Lorsqu'un objet d'entrée approche, la capacité parasite de l'électrode de détection approchée augmente.
La détection de capacité résiduelle consiste à analyser des signaux d'éléments caractéristiques d'événements de bruit de capacité résiduelle.
Une capacitance parasite interfère avec cette mesure.
Un circuit (140) réduit la capacitance parasite en ne maintenant pratiquement aucune différence de potentiel entre une plaque capacitive (114, 116) et un matériau environnant responsable de la capacitance parasite.
La capacité de dispersion est réduite par l'utilisation d'oxydations locales (18).
La capacitance parasite prend naissance entre les plaques capacitives (114, 116) et un matériau environnant.
De telles erreurs peuvent être évitées ou corrigées lorsque la capacité résiduelle est détectée.
La présente invention concerne des systèmes et procédés de détection de capacité résiduelle dans des capteurs tactiles capacitifs.
La présence d'une capacité résiduelle peut entraîner des erreurs dans la détection et la détermination de la position du contact tactile.
Le circuit est programmable indépendamment de la sensibilité et du réglage du décalage et est insensible à une capacité résiduelle fixe.
Chaque cellule de tension comprend également un réseau de compensation pour faire correspondre la capacité parasite vue par chaque cellule de tension.
Un tel circuit à filtre utilise les capacité de diffusion (104, 108) du circuit de commutation pour accomplir les fonctions qui lui sont assignées.
Chaque élément de tension comprend un réseau d'équilibrage qui adapte la capacité parasite perçue par chaque élément de tension.
L'appareil peut également comprendre une troisième couche d'un matériau conducteur servant à protéger l'appareil contre la capacité parasite.
Chaque cellule de tension peut également comprendre un réseau d'équilibrage pour faire correspondre la capacité parasite observée par chaque cellule de tension.
Ils servent à décharger la capacité parasite (Cn) au noeud (2) vers la source de tension de référence, par l'intermédiaire de la borne (4).
Requêtes fréquentes anglais :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
Requêtes fréquentes français :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
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