Un réacteur attaque l'oxyde de façon à obtenir une couche d'arrêt et couche barrière d'attaque au nitrure afin de former un trou dans l'oxyde.
L'invention concerne un procédé d'attaque d'oxyde mis en oeuvre dans un réacteur à plasma de gravure ionique réactive activée par champ magnétique (MERIE).
On peut effectuer un processus d'attaque chimique en deux étapes, la première consistant à attaquer d'abord l'oxyde pour attaquer le substrat de silicium, et la seconde, à procéder à une attaque plus sélective, mais plus lente.
La procédure de gravure humide peut consister à appliquer de la vapeur d'un produit chimique de gravure d'oxyde, comme HF et XeF6 par exemple, ou à appliquer un produit chimique de gravure d'oxyde, comme HF et XeF6 par exemple.
On peut utiliser le polysilicium restant comme masque d'attaque chimique d'oxyde afin d'éliminer tout l'oxyde excepté dans les tranchées.
On utilise C4F8, Ar et CH2F2 pour la seconde étape d'attaque chimique de l'oxyde à haute sélectivité.
On utilise C4F8 et Ar pour la première étape d'attaque chimique de l'oxyde à vitesse élevée.
Après le dégagement par gravure de structures MEMS, le frottement constitue un problème bien connu, notamment pour la gravure d'oxyde enterré sur des plaquettes en SOI à cause des surfaces très planes.
Dans un autre mode de réalisation de l'invention, un résidu de silicium est éliminé des surfaces internes de la chambre avant attaque chimique de l'oxyde afin de retrouver le taux d'attaque chimique d'oxyde de base.
Ce procédé permet de produire un diélectrique intercouche (ILD) ayant une première couche d'arrêt d'attaque d'oxyde (24), une seconde couche (26) d'oxyde de TEOS non dopé et une couche finale d'oxyde de silane dopé (30).
Dans la première étape, une couche d'arrêt d'attaque d'oxyde (24) et une couche (26) d'oxyde de TEOS sont déposées, de façon à former un premier empilement LI.
Un écarteur de tranchée est formé après l'étape de diffusion profonde du corps N par déposition d'une couche d'oxyde, suivie d'une étape de décapage de l'oxyde.
La présente invention a trait à un système (fig. 5) et des procédés pour la gravure sélective de nitrure de silicium en présence d'oxyde de silicium assurant une sélectivité élevée tout en stabilisant les taux de gravure de l'oxyde de silicium.
Ce procédé d'attaque chimique d'oxyde, hautement sélectif à l'égard du nitrure, est avantageux pour une gravure en contact, à alignement automatique, de dioxyde de silicium, afin d'atteindre une couche mince sous-jacente de nitrure de silicium.
Une surface présélectionnée dans la zone active est oxydée, puis gravées, en utilisant une gravure à l'oxyde par procédé à sec, pour éliminer l'oxyde aux fonds des tranchées.
Requêtes fréquentes anglais :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
Requêtes fréquentes français :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
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