Lorsque la somme d'énergie d'entrée est supérieure à l'ensemble faisceau de polarisation, la sortie change de phase et lorsque ces deux valeurs sont égales la sortie vaut zéro et sert également à produire la fonction NON-ET.
L'opération NON-ET est une fonction logique sur deux valeurs logiques.
En algèbre booléenne et en électronique numérique, il est connu sous le nom de l'opération NON-ET.
Le circuit d'excitation (10) comprend un circuit NON-ET (L1) et des premier et deuxième inverseurs (L2, L3) reliés entre eux.
Le circuit NON-ET accepte une entrée en cascade d'une autre cellule et transmet sa sortie en cascade comme entrée en cascade à l'autre cellule pour faciliter la mise en oeuvre efficace de dispositifs interconnectés.
L'invention concerne une cellule de circuit intégré prédiffusé à grain très fin, qui comprend un dispositif logique à deux entrées et un circuit NON-ET en cascade muni d'une sortie isolée.
Par ailleurs, le verrou lui-même comprend une porte NON-ET à trois entrées et une porte NON-ET à deux entrées.
La présente invention concerne un circuit de décodage configuré en n'utilisant aucune porte NON-ET mais en utilisant des transistors passants.
Cette propriété rend la porte NON-ET cruciale pour l'électronique numérique moderne, y compris son utilisation dans la mémoire flash NAND et la conception d'un processeur d'ordinateur.
Une porte NON-ET traite les valeurs du bit de poids fort fournies par les mémoires respectives.
Dans un mode de réalisation, des transistors parallèles sont couplés entre une porte NON-ET et une tension d'alimentation.
Dans certains modes de réalisation, une paire de chaînes de NAND comprend une chaîne impaire de NAND adjacente à une chaîne paire de NAND.
Chaque canal de mémoire flash NON-ET comprend une pluralité de mémoires flash NON-ET.
Selon l'invention, un processus de programmation évalue des chaînes NAND d'un bloc afin de détecter une chaîne NAND défectueuse, par exemple une chaîne NAND comportant un élément de stockage défectueux.
De préférence, chaque module de mémoire inclut quatre blocs NAND (501), chaque bloc NAND étant constitué d'un contrôleur de mémoire flash (503) et de deux mémoires flash NAND (505).
Le dispositif de mémoire flash NAND comprend un réseau de mémoire flash NAND défini comme une pluralité de secteurs.
Un contrôleur de NAND à ECC virtualisé unique exécute un algorithme d'ECC et gère une pile de mémoires flash NAND.
Les ensembles de mémoire rémanente, quels qu'ils soient, peuvent être des ensembles ROM masqués programmés, des ensembles de mémoire flash configurés NAND et des ensembles de mémoire EEPROM configurés NAND.
L'invention porte sur une unité logique de la mémoire flash NON-ET (NAND).
Ladite architecture NAND à lignes de bits partagées comprend une ou plusieurs paires de chaînes de NAND, ladite ou chacune desdites paires de chaînes de NAND ayant une ligne de bits en commun.
L'invention concerne un procédé d'auto-programmation d'un système de fichiers sur la base d'une mémoire flash (FLASH) de grille non-et (NAND).
Le contrôleur flash NAND multi-hôte (202) peut comprendre des composants d'interaction hôtes, un circuit logique de commutation de commande hôte (310) et un circuit de commande NAND (316) permettant le partage du dispositif flash NAND (108).
L'invention concerne un dispositif de mémoire flash NAND.
Les tensions additionnelles sont appliquées aux chaînes NAND d'un bloc tandis que les chaînes NAND sont inhibées de toute programmation.
Dans un réseau de blocs de cellule flash NON-ET, un seul bloc de cellule flash NON-ET est sélectionné à la fois pour la programmation.
Samsung a été le premier à produire la flash NAND 3D en masse, en 2013, sous le nom de Vertical NAND (V-NAND).
Requêtes fréquentes anglais :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
Requêtes fréquentes français :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
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