L'invention porte sur un système et sur un procédé de mesure et d'analyse des paramètres du transit de puissance dans des systèmes d'excitation à base de radiofréquence pour des générateurs de plasma à semi-conducteurs.
Le système d'excitation émet un faisceau de façon à exciter une région cible durant la période d'excitation.
Un circuit d'excitation sans balais, commutable d'une excitation positive à une excitation négative, sert à exciter cette machine.
Un système d'excitation (exs) émet un faisceau d'excitation afin d'exciter une zone cible.
Actuellement, le système d'excitation du générateur peut être divisé en un système d'excitation par brosse et un système d'excitation sans balai.
Ledit appareil d'analyse est pourvu d'un système de repérage (osc, dcu) afin de contrôler le système d'excitation qui oriente le rayon d'excitation vers la zone cible.
L'invention porte sur un appareil d'analyse, en particulier un appareil d'analyse spectroscopique, comprenant un système d'excitation (exs) servant à émettre un rayon d'excitation (exb) afin d'exciter une zone cible au cours d'une période d'excitation.
Un système d'excitation couplé à l'élément de détection produit un signal d'excitation modulé en amplitude à une ou plusieurs fréquences de modulation radiale φ.
Le dispositif selon l'invention est constitué par un système d'excitation, un système d'acquisition de données et les échantillons résonnants du matériau.
Dans d'autres modes de réalisation, le système d'excitation et le système de détection sont situés dans le même logement.
L'invention porte sur un système de mesure de déphasage (100) contrôleur un système d'excitation (101), un matériau luminescent (103), et un système de détection (102).
Un dispositif d'analyse, en particulier d'analyse spectroscopique, comprend un système d'excitation émettant un faisceau d'excitation pour exciter une zone cible.
L'invention porte sur un appareil d'analyse, notamment un appareil d'analyse spectroscopique qui comprend un système d'excitation et un système de surveillance.
Le système de surveillance peut être intégré à un appareil d'analyse qui comprend également un système de spectroscopie avec un système d'excitation et un système de détection.
Il s’agit du système d’inhibition sexuelle et du système d’excitation sexuelle.
Ce système d'excitation électromagnétique est conçu pour interroger le capteur de pression magnéto-chimique.
Requêtes fréquentes anglais :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
Requêtes fréquentes français :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
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