La zone de croisement (10R, 10G, 10B) peut se trouver dans un emplacement quelconque entre la lentille à électrons (30) et le système de déflexion (2).
Une couche conductrice est appliquée sur chaque surface optiquement passive et une lentille à électrons est formée par la couche conductrice à l'intérieur du boîtier et par les couches conductrices sur la lentille de Fresnel.
Une lentille à électrons unidimensionnelle (9) qui focalise les électrons dans la direction de balayage est disposée entre la plaque de surface d'incidence (2a) et la plaque de surface de sortie (2b).
L'appareil comprend un canon à électrons, des premier et second déflecteurs, une lentille électronique d'objectif et un détecteur d'électrons secondaires.
Lentille électronique magnétique analogue à une lentille optique concave et utilisable dans les appareils à faisceau de particules chargées tels qu'un microscope électronique.
La lentille électronique multi-axiale présente, de préférence, des pièces magnétiquement conductrices de portion de lentille, munies d'ouvertures et agencées généralement en parallèle.
Selon l'invention, on place une lentille électronique entre l'ouverture de sortie de la cavité et la lentille principale afin de diriger le faisceau d'électrons selon un angle prédéterminé vers l'entrée de la lentille principale.
Un ensemble à lentille électronique focalise l'impulsion d'électrons sur l'échantillon sur le plateau.
La lentille électromagnétique possède de préférence des pièces conductrices magnétiques dont les orifices sont généralement parallèles.
Lesdites ouvertures factices, disposées de préférence autour de la zone des ouvertures munies de lentilles, peuvent être multipliées.
Le faisceau d'électrons est ensuite dévié de nouveau, de manière commandée, vers l'axe optique à l'aide d'un déflecteur de balayage principal, de telle sorte que le faisceau d'électrons passe à travers le centre d'un objectif pour électrons.
Ledit tube réduit les distorsions dues aux lentilles électroniques se formant dans l'enceinte à vide.
L'invention concerne une sixième grille (G6) formant une lentille électronique principale, qui comprend une première anode (G61), une électrode auxiliaire (G62), et une seconde anode (G63).
Procédé pour créer une lentille d'électrons (28) qui consiste à appliquer une couche de polymère (12) sur une surface d'émetteur (36) d'un émetteur d'électrons (60) et faire sécher la couche de polymère (12) pour réduire le contenu volatil.
La lentille électronique de collecte (310) est configurée pour la concentration d'électrons secondaires de manière à former un faisceau d'électrons secondaires (309) qui est concentré en un plan focal conjugué, et le filtre (312) est placé dans ce plan.
Technique utilisée pour produire une image agrandie d’un objet minuscule en ayant recours à un microscope électronique, instrument qui utilise un faisceau d’électrons concentrés par une lentille électronique.
Requêtes fréquentes anglais :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
Requêtes fréquentes français :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
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