Le dispositif de mesure de couverture mesure la couverture d'un ensemble de propriétés par rapport au signal observé.
Les modèles de pannes reconnaissant la cellule peuvent également être utilisés pour améliorer la couverture de pannes d'un ensemble de séquences de test générées par des techniques ATPG classiques.
Requêtes fréquentes anglais :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
Requêtes fréquentes français :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
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