La présente invention concerne des procédés de liaison d'une plaquette à l'autre.
Selon la présente invention, dans un processus de liaison de tranches, l'un ou les deux de deux substrats de tranche sont entaillés avant la liaison.
Un porte-plaquettes perforé est également utilisé pour lier des plaquettes, ce qui permet de les manipuler et de les séparer facilement.
Cette invention permet d'améliorer la liaison collée entre tranches par brasure, collage au verre ou collage par polymère (adhésif) en donnant un profil sous forme de microstructure à l'une ou aux deux surfaces (22, 20) de tranche.
La présente invention concerne un modulateur optique utilisant la technologie de liaison de tranche.
L'invention concerne un appareil et un procédé pour une liaison de tranche à semi-conducteur fournissant une surveillance in situ et en temps réel du temps de liaison de tranche à semi-conducteur.
La galette de circuit optique et la galette de circuit intégré sont collées l'une à l'autre par un processus de métallisation de galette.
D'autre part, le polymère est également utile comme adhésif pour coller des plaquettes entre elles.
L'invention concerne également des procédés de fabrication utilisant la technique du collage de tranches.
L'invention concerne un espaceur déformable pour des applications de liaison de tranche.
Cette structure de tranche peut être formée selon différentes techniques, telles que l'assemblage de tranches, et des techniques de dépôt.
L'invention concerne un procédé d'assemblage direct de tranches qui consiste à déposer une couche d'accrochage sur une première et une deuxième tranche, et assembler directement la première et la deuxième tranche en leur appliquant chaleur et pression.
La première et la seconde tranche peuvent être reliées l'une à l'autre grâce à un procédé de liaison de tranches qui forme un interstice (128) entre elles.
Des techniques de liaison partielle de tranches et de découpage partiel de tranches en dés sont utilisées pour créer des puces et des poches.
Le temps de liaison est utilisé en tant que paramètre de contrôle de qualité en temps réel pour le processus de liaison de tranche.
Requêtes fréquentes anglais :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
Requêtes fréquentes français :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
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