En conséquence, le défaut de type trou est supprimé.
La présente invention concerne un appareil pour la détection de défaut de type microdéfaut et procédé de fabrication d'unité capteur.
Cependant, comme une condition de classification de défauts de type instruction est déterminée de sorte à permettre un taux moyen élevé de réponses correctes, la classification de défauts ne peut pas répondre à ces exigences.
La présente invention concerne un dispositif de correction de défaut de type jet d'encre (1) qui peut réaliser efficacement une opération de distribution sur les portions souhaitées dispersées sur un substrat de grande taille.
n’est pas un défaut de type héréditaire, mais est la dégénérescence qui se produit après la naissance.
Puis ce système calcule une note de type de défaut pour chaque type de défaut qui pondère la gravité du type de défaut et l'importance des défauts de ce type de défaut.
La représentation graphique donne des informations détaillées sur le type de défaut, la position du défaut et la forme du défaut.
Ainsi, le type de défaut peut être classé et le type de défaut qui ne peut pas être discriminé dans un dispositif d'affichage d'image est discriminé.
En conséquence, le défaut de type trou est supprimé.
Un type de défaut ayant un rapport d'occurrence de défauts qui dépasse la valeur de référence est déduit.
L'invention concerne un dispositif de détermination de défauts qui supprime la surassimilation et détermine avec précision le type de défaut.
L'intervalle de fiabilité du rapport de défauts calculé par type de défaut est comparé à une valeur de référence prédéterminée.
Le défaut peut alors être classifié en tant que correspondant au type de défaut dont le profil de signal présente la probabilité la plus élevée.
Un point d'inspection est défini dans des données de conception, avec un type de défaut.
Ensuite, une analyse de tache est réalisée pour la combinaison des pixels adjacents, et la détermination de l'existence du défaut interne et la spécification du type de défaut en fonction de la taille de la zone de défaut combinée.
Requêtes fréquentes anglais :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
Requêtes fréquentes français :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
Traduction Translation Traducción Übersetzung Tradução Traduzione Traducere Vertaling Tłumaczenie Mετάφραση Oversættelse Översättning Käännös Aistriúchán Traduzzjoni Prevajanje Vertimas Tõlge Preklad Fordítás Tulkojumi Превод Překlad Prijevod 翻訳 번역 翻译 Перевод