Dictionnaire anglais - français

électronique et électrotechnique - iate.europa.eu

Publications scientifiques

Mesure du gain en boucle ouverte d'un amplificateur opérationnel
... An auxiliary amplifier is used which places the device under test in a closed-loop configuration which reduces the output offset voltage and makes the frequency compensation easier....
... A celui-ci sont associés un amplificateur auxiliaire et une boucle de contre-réaction qui réduit l'influence de la tension d'offset et facilite la compensation de fréquence
général - core.ac.uk -
Electrical characterization & modeling of the trapping phenomena impacting the reliability of nanowire transistors for sub 10nm nodes
... These defects are generally induced by the fabrication process or by the ageing of the device under electrical stress (BTI, Hot Carriers)....
... Ces défauts sont généralement induits par le processus de fabrication ou par le vieillissement de l'appareil sous tension électrique (BTI, porteurs chauds)...
politique tarifaire / Europe - core.ac.uk - PDF: tel.archives-ouvertes.fr
Impact de la pression et de la température sur la performance d'un actionneur plasma de type dbd
... Thus, a study of the performance of this device under different atmospheric conditions is essential.This...
Europe / politique tarifaire - core.ac.uk - PDF: publications.polymtl.ca
Ic testing methods and apparatusAn integrated circuit comprises a device under test and embedded test circuitry....
général - core.ac.uk - PDF: www.loc.gov
Prognostic and remaining life prediction of electronic device under vibration condition based on cpsd of mpiPrognostic of electronic device under vibration condition can help to get information to assist in condition-based maintenance and reduce life-cycle cost....
général - core.ac.uk - PDF: doaj.org
Graphene gold nanoparticle hybrid based near infrared photodetector... The introduction of Au nanoparticles enhanced response of the device under IR illumination due improved NIR absorption....
général - core.ac.uk - PDF: eprints.gla.ac.uk
Improving accuracy of automated gui testing for embedded systemsand reproduces event sequences on the device under test to ensure that they are performed on time....
général - core.ac.uk - PDF: speed.cis.nctu.edu.tw

Exemples anglais - français

électronique et électrotechnique - iate.europa.eu

Traductions en contexte anglais - français

Provided is a test device for testing a device under test.

L'invention porte sur un dispositif de test pour tester un dispositif à tester.

industrie mécanique - wipo.int
Provided is a test device for testing a device under test.

L'invention concerne un dispositif d'essai pour tester un dispositif à l'essai.

industrie mécanique - wipo.int
Behaviour of steering device under impact

Comportement du dispositif de conduite en cas de choc

général - eur-lex.europa.eu
Behaviour of steering device under impact

Comportement du dispositif de conduite en cas de choc

général - eur-lex.europa.eu
Provided is a test device for testing a device under test (DUT).

L'invention concerne un dispositif de test pour tester un dispositif à tester (DUT).

industrie mécanique - wipo.int
Provided is a test device for testing a device under test (DUT).

L'invention concerne un dispositif de test pour tester un dispositif à tester (DUT).

industrie mécanique - wipo.int
A signal representing the test data is transmitted to a device under test through electromagnetically coupled structures on the interface device and the device under test.

Un signal représentant les données d'essai est transmis à un dispositif à l'essai par le biais de structures couplées au niveau électromagnétique sur le dispositif d'interface et le dispositif à l'essai.

industrie mécanique - wipo.int
The feedback loop is coupled between an output of a device under test and an input of the device under test.

La boucle d'asservissement est couplée entre une sortie d'un dispositif à l'essai et une entrée du dispositif à l'essai.

industrie mécanique - wipo.int
Disclosed is a test device that communicates with a device under test in units of packets containing one or more command lines to test the device under test.

L'invention porte sur un dispositif de test qui communique avec un dispositif à tester par unités de paquets contenant une ou plusieurs lignes d'instruction afin de tester le dispositif à tester.

informatique et traitement des données - wipo.int
A user device for implementing direct penetrate communication method applied to a user device under NAT with another user device under the different NAT and the communication method thereof.

Dispositif pour implémenter une méthode de contrôle de communication de pénétration directe appliquée à un dispositif utilisateur sous NAT avec un autre dispositif utilisateur sous un NAT différent et méthode de communication correspondante.

électronique et électrotechnique - wipo.int
The robotic arm may have grippers that grip a device under test or a support structure that is supporting a device under test.

Le bras robotique peut avoir des éléments de préhension qui saisissent un dispositif sous test ou une structure de support qui supporte un dispositif sous test.

industrie mécanique - wipo.int
A semiconductor device tester includes programmable hardware configured to test a semiconductor device under test.

La présente invention concerne un testeur de dispositifs à semi-conducteurs comportant un matériel programmable configuré pour tester un dispositif à semi-conducteurs à l'essai.

industrie mécanique - wipo.int
Provided is a test device for testing a device under test without testing the wafer.

L'invention concerne un dispositif de test destiné à tester un dispositif sous test, sans tester sa plaquette.

industrie mécanique - wipo.int
Thereafter, the first data is further transmitted from the intermediate device to the computing device under a second master-slave protocol, where the intermediate device herein acts as a slave device under the second master-slave protocol.

Les premières données sont ensuite transférées, du dispositif intermédiaire vers le dispositif informatique selon un second protocole maître-esclave, dans lequel le dispositif intermédiaire sert de dispositif esclave.

électronique et électrotechnique - wipo.int
There is provided a test program debug device comprising a DUT (device under test) simulator and a semiconductor test device simulator.

L'invention concerne un dispositif de déboguage de programme de test comprenant un simulateur de dispositif à l'essai (DUT), et un simulateur de dispositif de test à semi-conducteur.

informatique et traitement des données - wipo.int


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