Le test en circuit ouvert est nécessaire pour déterminer la caractéristique de circuit ouvert ou la caractéristique de magnétisation d'une machine à courant continu.

Le nombre de courbes d'étalonnage correspond au nombre de valeurs caractéristiques de circuit, une des courbes d'étalonnage étant sélectionnée en fonction de la valeur caractéristique de circuit sélectionnée par le multiplexeur.

Dans l'un des modes de réalisation, la caractéristique de ligne de base peut être comparée à une caractéristique de circuit qui est mesurée lors du remplissage du réservoir.

L'unité de détection de variation de processus surveille l'amplitude des fluctuations d'une caractéristique du circuit dues à une variation du processus.

L'invention concerne un circuit à large bande facile à mettre au point, qui peut présenter une caractéristique de circuit stable désirée sur une bande de fréquence large, grâce à l'utilisation d'un petit nombre d'éléments de circuit.

Une différence entre la caractéristique de ligne de base et l'autre caractéristique de circuit peut être utilisée afin de déterminer si la sonde est en contact ou non avec le liquide.

Comme la restriction de configuration est réalisée au cours de l'étape de conception du circuit, il est possible de décider de la restriction de configuration en considérant la relation avec la caractéristique de circuit nécessaire.

Le test de court-circuit donne la courbe caractéristique de court-circuit qui montre la variation du courant de court-circuit en fonction du courant d'excitation.

Le test de court-circuit donne la courbe caractéristique de court-circuit qui montre la variation du courant de court-circuit en fonction du courant d'excitation.

Un manque de métal ayant des paramètres calculés à l'aide des amplitudes surveillées des fluctuations de la caractéristique du circuit est appliqué entre le substrat et la puce IC à haute fréquence.