A la deuxième étape (1302), celle des essais de sélection et de vieillissement, on met la puce dans un support de puce nue, et on monte le support sur un support de vieillissement monté sur une carte de vieillissement.
Les cartes filles multiples (82) peuvent ensuite être montées sur la carte mère (10) aux fins d'essais de vieillissement mettant en ÷uvre des fours de vieillissement artificiel.
L'ouverture d'un support de vieillissement est modifiée par des structures de différente forme pouvant être fixées au support de vieillissement puis retirées de celui-ci.
Le milieu liquide est recyclé vers la chambre de vieillissement accéléré.
Le milieu liquide est recyclé vers la chambre de vieillissement accéleré.
Ce support de puce (2) est chargé sur la carte à déverminage d'un dispositif de déverminage.
L'invention permet d'améliorer une installation de déverminage en assurant une flexibilité de connexion électrique entre diverses sources de polarisation et les supports de déverminage.
Par conséquent, la dissipation thermique est réduite pendant l'essai de déverminage.
L'invention concerne un système de déverminage pour déverminer un ou plusieurs dispositifs optoélectroniques, qui comprend au moins une carte à circuit imprimé de déverminage.
L'invention concerne des systèmes et des procédés de réduction des variations de température au cours d'un essai de déverminage.
Le générateur de pixel de compensation de rodage fonctionnel est configuré pour générer des données de pixel de compensation de rodage fonctionnel.
On obtient également une estimation en temps réel du temps de fiabilisation pour chaque CI, ce qui permet d'ajuster le temps de fiabilisation afin de maximiser la capacité de fiabilisation.
La présente invention concerne, d'une part un procédé d'essais à chaud destiné aux essais à chaud de plaquettes, et d'autre part un microcircuit d'encapsulation sur tranche.
L'invention concerne un appareil qui comprend un générateur de pixel de compensation de rodage fonctionnel et un circuit de compensation de rodage fonctionnel.
L'invention concerne un dispositif électronique et un procédé de prévention de marquage convenant à la prévention d'un marquage sans occasionner de désagrément à un utilisateur.
La résolution de ce problème passe par la mise en place d'une mémoire (9) de rémanence.
Ces routages sont aménagés de sorte qu'à l'utilisation, la carte personnalisée relie au moins une source de polarisation électrique à au moins un contact électrique de chaque dispositif optoélectronique.
Grace à la cible, une réduction du temps de rodage est possible.
La TV plasma peut souffrir de la brûlure produite par des images statiques.
Pour résoudre ce problème d'effet de rémanence à long terme, une carte numérique d'utilisation de cellules est créée et peut être utilisée afin d'obtenir une compensation de rémanence active.
Ainsi, le test de rodage fonctionnel de moniteur peut être efficacement réalisé.
L'invention traite également d'un appareil qui améliore la mise en oeuvre de la fiabilisation de CI.
C’est ce que l’on appelle l’ « image burn » ou « burn in », et ce n’est pas couvert pas la garantie.
Dans le cas de boîtiers à puces multiples, l'intérêt du test de vieillisement artificiel de la puce nue est intéressant en ce qu'il peut s'appliquer individuellement à toute puce, séparément du boîtier.
Un système de contact démontable permet un testage et/ou une fiabilisation simples.
Requêtes fréquentes anglais :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
Requêtes fréquentes français :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
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