L'invention porte sur un circuit intégré à test intégré (BiST).
L'invention concerne un auto-test intégré (BIST : built-in self test ) destiné à une mémoire statique compacte (CsRAM) multiport.
Un circuit d'auto-test intégré (BIST) (24) peut être compris afin de faciliter l'essai.
L'invention porte sur un dispositif sans fil avec une capacité d'autotest intégré (BIST) pour tester/étalonner des circuits d'émission et de réception.
A noter que ces solutions concernent principalement le test integre ou bist (built-in self test).
Le circuit intégré comprend également un dispositif de commande BiST qui commande le BiST hybride.
Le circuit BIST comprend un contrôleur BIST, une unité de génération de vecteurs de test (TPG), un registre (RWR) pour la lecture et l'écriture des données d'essai de/à l'ensemble mémoire et un circuit d'entrée/sortie (E/S) BIST.
L'appareil comprend également un dispositif de commande BIST.
Ce dernier est monté en dessous d'un assembleur/désassembleur de paquets de connexion (P), prévu pour actionner le circuit d'autovérification (BIST).
Le système BiST comprend un circuit à l'essai.
Le système BiST comprend également une interface de bus.
Le système BiST comprend en outre un générateur de signal.
L'invention porte sur un système d'essai intégré (BiST).
Toutes les défaillances survenant pendant le BIST sont enregistrées.
Le commutateur peut être commandé par la logique BIST.
L'architecture de contrôleur BIST (500) de système comprend un contrôleur enfoui BIST (502) de système, un circuit de mémoire enfoui (504), un bus IEEE 1149.1 enfoui (512), et un connecteur (506) de contrôleur externe.
Ce système est caractérisé en ce que le moteur BIST amène la structure BIST à tester les connexions et les fonctions du réseau PLA, dès réception de l'entrée de lancement.
La présente invention concerne un auto-test intégré (BIST) de mémoire assisté par processeur destiné à identifier les adresses mémoire défaillantes.
Le système BiST comprend également un ou plusieurs capteurs incorporés.
Un appareil logique autonome (110) de commande de l'autotest BIST opère à une fréquence inférieure et communique avec une pluralité de réseaux intégrés de mémoire (111-113) en utilisant un ensemble d'instructions d'autotest BIST.
Requêtes fréquentes anglais :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
Requêtes fréquentes français :1-200, -1k, -2k, -3k, -4k, -5k, -7k, -10k, -20k, -40k, -100k, -200k, -500k, -1000k,
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